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  • LJD-C介電損耗測(cè)定儀
    LJD-C介電損耗測(cè)定儀

    介電損耗測(cè)定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    更新日期:2025-07-02型號(hào):LJD-C訪問量:1375
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  • LJD-C介電損耗測(cè)試儀
    LJD-C介電損耗測(cè)試儀

    介電損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    更新日期:2025-07-02型號(hào):LJD-C訪問量:1541
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  • LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)定機(jī)
    LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)定機(jī)

    介質(zhì)損耗測(cè)定機(jī)作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    更新日期:2025-07-02型號(hào):LJD-C訪問量:1414
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  • LJD-C介質(zhì)損耗試驗(yàn)機(jī)
    LJD-C介質(zhì)損耗試驗(yàn)機(jī)

    介質(zhì)損耗試驗(yàn)機(jī)作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

    更新日期:2025-07-02型號(hào):LJD-C訪問量:1380
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  • LJD-C介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀
    LJD-C介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀

    介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

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  • LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x
    LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x

    介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

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  • LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)定儀
    LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)定儀

    介質(zhì)損耗測(cè)定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

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  • LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)試儀
    LJD-C介質(zhì)損耗測(cè)試儀

    介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)*技術(shù): 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

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